Atomic layer deposition of thin films of ZnSe-structural and optical characterization

• Afiliacje: ON1, ON1.2, ON4, ON4.2, SL1, SL1.3
• Data opublikowania (wydrukowania): 01-01-04
• Impact factor: 1
• Impact factor txt: 1,598
• Strony: 172-177
• Wolumin: 446
• Autor: Guziewicz Elżbieta, Godlewski Marek, Kopalko Krzysztof, Łusakowska Elżbieta, Dynowska Elżbieta, Guziewicz M., Godlewski Michał M., Phillips M. R.
• Tytuł publikacji: Atomic layer deposition of thin films of ZnSe-structural and optical characterization
• Rok: 2004
• Czasopismo / konferencja / monografia: Thin Solid Films

• Poprzedni
• Następny