Wizyta przedstawicieli EuXFEL w Instytucie Fizyki PAN

W dniach 11-12 września miała miejsce wizyta Delegacji Zarządu EuXFEL – Europejskiego Rentgenowskiego Lasera na Swobodnych Elektronach – w składzie: Dyrektor Generalny – Prof. Thomas Feurer, Dyrektor Administracyjna – Dr Nicole Elleuche , Dyrektor Naukowy – Prof. Serguei Molodtsov. 

Pierwszego dnia wizyty goście wzięli udział w spotkaniu w Ministerstwie Nauki i Szkolnictwa Wyższego, gdzie odbyły się rozmowy na temat potencjału naukowego EuXFEL i zaangażowania polskiego środowiska naukowego w badania wykorzystujące tę wyjątkową aparaturę. Ministerstwo reprezentowali Izabela Najda-Jędrzejewska – Zastępca Dyrektora Wydziału Strategicznej Infrastruktury Badawczej Departamentu Innowacji i Rozwoju MNiSW oraz Michał Rybiński – Naczelnik Wydziału Strategicznej Infrastruktury Badawczej Departamentu Innowacji i Rozwoju MNiSW. W spotkaniu wzięli udział także polscy przedstawiciele projektu MNiSW wspierającego rozwój polskiego środowiska naukowego w zakresie badań XFEL, w tym prof. Ryszard Sobierajski – kierownik merytoryczny projektu, lider Centrum Doskonałości XFEL w Instytucie Fizyki PAN oraz Wiceprzewodniczący EuXFEL Council.

Po spotkaniu przedstawiciele Zarządu EuXFEL udali się do siedziby Narodowego Centrum Badań Jądrowych w Świerku. Wizyta była okazją do omówienia wspólnych planów badawczych i rozwoju strategicznych projektów. Goście odwiedzili reaktor badawczy MARIA oraz Centrum Radioizotopów POLATOM.

Dzień zakończyła uroczysta kolacja z udziałem prof. Piotra Deuara i prof. Sobierajskiego z IF PAN, przedstawicieli NCBJ oraz grupy polskich naukowców zaangażowanych w projekt.

12 września gościliśmy przedstawicieli EuXFEL w Instytucie Fizyki PAN. Ze strony Instytutu w spotkaniu wzięli udział członkowie Dyrekcji – prof. Piotr Deuar i prof. dr hab. Bartłomiej Witkowski oraz prof. dr hab. Tomasz Story, Przewodniczący Rady Naukowej IF PAN, prof. dr hab. Tomasz Wojtowicz (Centrum MagTop), prof. Ryszard Sobierajski (Wiceprzewodniczący European XFEL Council), a także prof. Łukasz Kłopotowski – kierownik zespołu który niedawno rozpoczął wykorzystywać infrastrukturę XFEL.

Spotkanie otworzył prof. Deuar, który przedstawił działalność Instytutu Fizyki PAN, główne kierunki prowadzonych badań oraz potencjał w zakresie współpracy międzynarodowej. Następnie prof. Thomas Feurer zaprezentował możliwości naukowe oferowane przez European XFEL, a także omówił dotychczasową współpracę z Polską oraz nakreślił perspektywy oraz oczekiwania na przyszłość. Zwrócił przy tym szczególną uwagę na istotny wzrost zaangażowania polskich naukowców w badania prowadzone przy wykorzystaniu infrastruktury EuXFEL w ostatnich latach.

W dalszej części spotkania prof. Łukasz Kłopotowski omówił dotychczasowe oraz planowane badania realizowane przez jego zespół z wykorzystaniem infrastruktury XFEL, a prof. Tomasz Wojtowicz przedstawił działalność i osiągnięcia Centrum MagTop – wiodącej jednostki w zakresie badań nad materiałami topologicznymi. Spotkanie było także okazją do dyskusji na temat wspólnych projektów europejskich – zarówno naukowych, jak i koordynacyjno-wspierających. Po spotkaniu rozmowy kontynuowano w mniej formalnej atmosferze w czasie wspólnego obiadu, do którego dołączył Dyrektor Instytutu, prof. dr hab. Leszek Sirko.

Na zakończenie wizyty nasi goście zwiedzili zaawansowane laboratorium MagTop, zapoznając się z jego nowoczesnym zapleczem technologicznym przeznaczonym do wytwarzania i charakteryzacji materiałów topologicznych.

Wizyta Delegacji Zarządu EuXFEL była doskonałą okazją do zacieśnienia współpracy oraz omówienia planów dotyczących jej dalszego rozwoju. Jesteśmy pod wielkim wrażeniem unikalnej infrastruktury Europejskiego Rentgenowskiego Lasera na Swobodnych Elektronach oraz dostępnych tam możliwości badawczych. Niewątpliwie otwierają one nowe perspektywy dla realizacji zaawansowanych projektów. Widzimy duży potencjał do rozwijania dalszej współpracy, ale także dostrzegamy konieczność dalszego powiększenia grona polskich badaczy korzystających z zaawansowanej infrastruktury European XFEL.

Sieć Centrów Doskonałości XFEL (X-ray Free Electron Laser)

European XFEL (EuXFEL) jest obecnie jednym z najbardziej zaawansowanych źródeł impulsowego, spójnego promieniowania w zakresie twardego promieniowania rentgenowskiego. Udział polskich badaczy w użytkowaniu infrastruktury EuXFEL rozwinął się dzięki uruchomieniu Sieci Centrów Doskonałości XFEL (CD XFEL), których celem jest wspieranie naszych naukowców w badaniach prowadzonych z użyciem tego wyjątkowego lasera. Dzięki działaniom prof. Sobierajskiego, w ramach projektu Ministerstwa Nauki i Szkolnictwa Wyższego, jedno z takich centrów zostało uruchomione w IF PAN. Sieć obejmuje także laboratoria badawcze w Narodowym Centrum Badań Jądrowych, Uniwersytecie Warszawskim oraz w Uniwersytetu im. Adama Mickiewicza w Poznaniu. Ośrodki te skupiają badaczy posiadających doświadczenie w badaniach z wykorzystaniem EuXFEL a swoją wiedzą są gotowi wesprzeć nowych polskich użytkowników tej infrastruktury.