On the measurement of dislocation core distributions in a GaAs/ZnTe/CdTe heterostructure by high-resolution transmission electron microscopy

• Afiliacje: SL1, SL1.4
• Data opublikowania (wydrukowania): 11-01-03
• Strony: 231-244
• Wolumin: 83 (2)
• Autor: Kret Sławomir, Dłużewski Paweł, Dłużewski Piotr, Laval J.Y.
• Tytuł publikacji: On the measurement of dislocation core distributions in a GaAs/ZnTe/CdTe heterostructure by high-resolution transmission electron microscopy
• Rok: 2003
• Czasopismo / konferencja / monografia: Philosophical Magazine

• Poprzedni
• Następny