CD XFEL IF PAN

Centrum Doskonałości XFEL w IF PAN dedykowane jest badaniom w zakresie zmian strukturalnych materii skondensowanej pod wpływem temperatury i ciśnienia - związanych z tematyką badań materiałowych realizowanych na instrumentach FXE, MID i HED w EuXFEL- m.in. ultraszybkich przemian strukturalnych jak topnienie, krystalizacja, czy też zeszklenie indukowanych sub-pikosekundowymi impulsami

Infrastruktura naukowa dostępna w CD XFEL – IF PAN pozwala na statyczną charakteryzację strukturalną i elektronową materii skondensowanej. Wykorzystywane są w tym celu m.in. techniki skaningowej i transmisyjnej mikroskopii elektronowej, wysokorozdzielczej i proszkowej dyfrakcji rentgenowskiej, spektroskopii fotoelektronów, spektroskopii jonów i mikroskopii optycznej. Ponadto istniejąca w CD XFEL – IF PAN stacja badawcza umożliwia badania zmian strukturalnych w materii skondensowanej pod wpływem wysokiej temperatury lub ciśnienia generowanych przez ultrakrótkie impulsy promieniowania.

W ramach Projektu aparatura ta zostanie rozszerzona o laser femtosekundowy dużej mocy wraz uzupełniającymi go układami optycznymi - generatorem harmonicznych, źródłem światła białego, linią opóźniającą – koniecznymi do wprowadzenia nowych
technik pomiarowych: czasowo-rozdzielczej mikroskopii i interferometrii optycznej. Służyć one będą do prowadzenia w zakresie
optycznym badań dynamiki procesów zachodzących w materii skondensowanej w skali czasu od femto- do nanosekund.

Takie badania, z użyciem femtosekundowych impulsów rentgenowskich, należą do sztandarowych przykładów zastosowań
źródeł XFEL.