PROGRAM WARSZTATÓW NA TEMAT
ANALIZY RENTGENOWSKICH WIDM ABSORPCYJNYCH (EXAFS I XANES)
KOMITET PROGRAMOWY KOMITET
ORGANIZACYJNY
Prof. dr hab. Krystyna Ławniczak-Jabłońska Zofia Liberadzka
Dr Iraida Demchenko mgr Joanna Libera
Dr Edyta
Piskorska Jerzy
Dąbrowski
Dr Anna Wolska
10.00 – 10.30 Rejestracja
10.30 – 11.15 Synchrotrony – zasada działania, charakterystyka promieniowania, dostęp do stacji badawczych – K. Jabłońska
11.15 – 11.30 przerwa na kawę
11.30 – 12.15 Podstawy fizyczne absorpcji rentgenowskiej – A. Wolska
12.15 – 13.00 Metody rejestracji widm absorpcyjnych – I. Demchenko
13.00 – 14.30 przerwa na obiad
14.30 – 15.15 Zastosowanie struktury bliskiej krawędzi absorpcji (XANES) do identyfikacji związków chemicznych na przykładzie programu XANDA – E. Piskorska
15.15 – 16.00 Demonstracja programu ATHENA i ATOM – I. Demchenko,
16.00 – 16.30 przerwa na kawę
16.30 – 17.15 Pakiet FEFFIT: monochromatyzacja wiązki, wyższe harmoniczne, „deglitch”, korekcja danych eksperymentalnych – B. Ravel
17.15 – 17.45 Demonstracja programu XANDA –ćwiczenia praktyczne – E. Piskorska, M. Klepka
17.45 – 19.00 Ćwiczenia praktyczne korzystania z programu ATHENA – B. Ravel oraz I. Demchenko, K. Jabłońska, M. Klepka, E. Piskorska, A. Wolska,
9.00 – 9.45 A
practical guide to multiple scattering theory in EXAFS analysis – B. Ravel
9.45 – 10.30 Program FEFF –modelowanie widma XANES – A. Wolska
10.30 – 11.00 przerwa na kawę
11.00 – 11.45 Program FEFF – modelowanie widma EXAFS – I. Demchenko
11.45 – 12.30 Program ARTEMIS – wykorzystanie liniowej polaryzacji wiązki – K. Jabłońska
12.30 – 13.15 Nowe źródła promieniowania –rentgenowski laser na swobodnych elektronach – R. Sobierajski
13.15– 14.30 przerwa na obiad
14.30 – 15.15 Program ARTEMIS – przykłady problemów z udokładnianiem modelu – B. Ravel
15.15 – 16.00 Zastosowanie EXAFS do określania położeń atomów domieszkowych w półprzewodnikach np. GaMnAs – R. Bacewicz
16.00 – 16.30 przerwa na kawę
16.30 – 19.00 Ćwiczenia praktyczne na wybranych danych doświadczalnych oraz własnych danych – program ARTEMIS – B. Ravel, I. Demchenko, A. Wolska, E. Piskorska, K. Jabłońska
9.00 – 10.30 Przykłady zastosowania EXAFS do analizy ceramik tlenkowych – B. Ravel
10.30 – 11.00 przerwa na kawę
11.00 – 11.45 Analiza subtelnej struktury anomalnej dyfrakcji (DAFS) – E. Piskorska
11.45 – 12.30 Zastosowanie XANES i EXAFS do wyznaczania położenia Mn w Si – A. Wolska
12.30 – 13.15 Zastosowanie EXAFS do wyznaczania składu atomowego w niskowymiarowych strukturach pod przykrywką na przykładzie Ge w Si – I. Demchenko
13.15 – 14.30 przerwa na obiad
14.30 – 18.00 Ćwiczenia w posługiwaniu się programami z pakietu FEFFIT